物質(zhì)對β射線的吸收分析(試驗論文)
來源:本站 作者:常州銳奇精密測量技術(shù)有限公司 發(fā)布時間:2020-05-15 17:42:47 瀏覽量:2395實驗?zāi)康模?/strong>
是學習和掌握與物質(zhì)對射線吸收的有關(guān)知識和實驗方法,測量吸收曲線并求出β射線的射程和大能量。同時進一步加深對計數(shù)管、定標器等儀器的了解。
實驗儀器:
G-M計數(shù)管、放射源、薄鋁箔、厚鋁箔。
實驗原理:
當能量的β射線(即高速電子束)通過物質(zhì)時,與該物質(zhì)原子或原子核相互作用,由于能量損失,強度會逐漸減弱,即在物質(zhì)中被吸收。電子與物質(zhì)相互作用的機制主要有三種:
一,電子與物質(zhì)原子的核外電子發(fā)生非彈性碰撞,使原子激發(fā)或電離,電子以此種方式損失能量稱為電離損失。電離損失的能量損失可由下式給出:
此式適用于非相對論情況,式中v為電子速度,N、Z、I分別為靶物質(zhì)單位體積內(nèi)的原子數(shù)、原子序數(shù)、平均激發(fā)能。由此看出,電離損失的能量與入射電子的速度、物質(zhì)的原子序數(shù)、原子的平均激發(fā)能等因素有關(guān)。
二,電子受物質(zhì)原子核庫侖場的作用而被加速,根據(jù)電磁理論作加速運動的帶電粒子會發(fā)射電磁輻射,稱為軔致輻射,使電子的部分能量以X射線的形式放出,稱為輻射損失。這主要在能量較高的電子與物質(zhì)相互作用時發(fā)生。輻射損失式中m、E分別為入射電子的質(zhì)量、能量,Z、N分別為靶物質(zhì)的原子序數(shù)和單位體積中的原子數(shù)。
除以上兩種能量損失外,β射線在物質(zhì)中與原子核的庫侖場發(fā)生彈性散射,使β粒子改變運動方向,因電子質(zhì)量小,可能發(fā)生比較大角度的散射,還可能發(fā)生多次散射,因而偏離原射束方向,使入射方向上的射線強度減弱,這種機制成為多次散射。如果散射角超過90°,這種散射稱為反散射。
β射線通過物質(zhì)時主要以上述三種相互作用方式損失能量使強度減弱。發(fā)生三種相互作用的概率與β粒子的能量、吸收物質(zhì)的原子序數(shù)等因素有關(guān)。
考慮一束初始強度為I0的單能電子束,當穿過厚度為x的物質(zhì)時,強度減弱為I,其示意圖
強度I隨厚度x的增加而減小且服從指數(shù)規(guī)律,可表示為式中μ是該物質(zhì)的線性吸收系數(shù)。實驗指出,不同物質(zhì)的線性吸收系數(shù)有很大的差別,但隨原子序數(shù)Z的增加,質(zhì)量吸收系數(shù)(ρ是該物質(zhì)的密度)卻只是緩慢地變化,因而常用質(zhì)量厚度來代替線性厚度x,原子核β衰變放出高速電子的同時,還放出中微子,因此放出的電子并不是單一能量的,而是具有各種能量分布的連續(xù)能譜,因此β射線的吸收曲線并不準確地服從指數(shù)規(guī)律。
從圖中可以看出,有一大能量Emax,不同的核發(fā)生β衰變時,放出的電子能譜的Emax值不同,常以Emax代表β射線的特征能量。某些放射性核素會同時發(fā)射幾種大能量不同的β射線,這就會使實驗得到的吸收曲線更為復雜,放射性核素β衰變還可能伴隨γ射線,加之軔致輻射的影響,伴有X射線,使吸收曲線的尾部偏離指數(shù)規(guī)律,具有大能量的β射線,在具有吸收系數(shù)的物質(zhì)中所能穿過的大厚度,稱為該射線在該物質(zhì)中的大射程。通常定義通過吸收物質(zhì)后,射線強度降低到時,所對應(yīng)的吸收物質(zhì)厚度d即為β射線的射程R。
在實際測量中吸收曲線的尾部由于γ射線和軔致輻射的存在而變平,因此只能根據(jù)曲線變平之前的下降趨勢按直線外推至處,從而得到β射線的射程R。Β射線的射程與β射線的大能量之間,有經(jīng)驗公式相聯(lián)系,如吸收物質(zhì)是鋁,則當射程時, 式中E為β射線的大能量,單位為MeV。當用質(zhì)量厚度表示射程R時,對于原子序數(shù)相近的物質(zhì),射程也近似相同。公式(5)不僅對鋁適用,對那些原子序數(shù)與鋁相近的物質(zhì)也是適用的。圖4.3.2-4給出β射線的射程R與其能量E之間的關(guān)系曲線,通過該曲線也可由射程求出對應(yīng)的能量,或由β射線的能量找出對應(yīng)的射程。該圖的坐標軸均取對數(shù)坐標。
數(shù)據(jù)處理及結(jié)論:
1. 鋁箔的測量
鋁箔的測量 | |||
長/cm | 寬/cm | 質(zhì)量/mg | |
薄片 | 6.3 | 4.7 | 557.78 |
厚片 | 6.2 | 5.3 | 3550 |
2. 測量β射線密度與鋁箔厚度的關(guān)系
鋁箔質(zhì)量厚度/mgNaN-2 | 薄片 | 厚片 | 計數(shù) | 測量時間/s |
1b+0h | 1 | 0 | 12232 | 30 |
2b+0h | 2 | 0 | 11285 | 30 |
3b+0h | 3 | 0 | 10157 | 30 |
4b+0h | 4 | 0 | 9517 | 30 |
5b+0h | 5 | 0 | 8914 | 30 |
6b+0h | 6 | 0 | 8409 | 30 |
6b+1h | 6 | 1 | 5746 | 30 |
6b+2h | 6 | 2 | 3609 | 30 |
6b+3h | 6 | 3 | 2001 | 30 |
6b+4h | 6 | 4 | 1252 | 40 |
6b+5h | 6 | 5 | 785 | 60 |
6b+6h | 6 | 6 | 454 | 100 |
6b+7h | 6 | 7 | 752 | 400 |
6b+8h | 6 | 8 | 617 | 600 |
7b+8h | 7 | 8 | 597 | 900 |
8b+8h | 8 | 8 | 601 | 1000 |
9b+8h | 9 | 8 | 657 | 1200 |
10b+8h | 10 | 8 | 621 | 1200 |
11b+8h | 11 | 8 | 623 | 1200 |
12b+8h | 12 | 8 | 522 | 1200 |
本底的測量 | 0 | 0 | 120 | 300 |
I0的測量 | 0 | 0 | 13702 | 30 |
其中,鋁箔的質(zhì)量厚度中,b表示每一薄片的質(zhì)量厚度,h表示每一厚片的質(zhì)量厚度; | ||||
經(jīng)過計算,可得: 每一薄片的質(zhì)量厚度; 每一厚片的質(zhì)量厚度; |
3. 繪制吸收曲線,并求出R和EMAX:
繪制吸收曲線 | |||||
I/I0 | 0.893 | 0.823 | 0.741 | 0.695 | 0.650 |
d/mgNaN-2 | 18.838 | 37.676 | 56.514 | 75.352 | 94.190 |
I/I0 | 0.613 | 0.419 | 0.263 | 0.145 | 0.0677 |
d/mgNaN-2 | 113.082 | 221.060 | 329.092 | 437.124 | 545.156 |
I/I0 | 0.0278 | 0.00907 | 0.00324 | 0.00137 | 0.000577 |
d/mgNaN-2 | 653.188 | 761.220 | 869.252 | 977.284 | 996.122 |
I/I0 | 0.000440 | 0.000323 | 0.000257 | 0.000261 | 7.67E-05 |
d/mgNaN-2 | 1014.960 | 1033.798 | 1052.636 | 1071.475 | 1090.312 |
此處的I和I0均為減去本底以后的數(shù)值,d的數(shù)值由上表方法計算而得; | |||||
吸收曲線作圖如下: 壞點應(yīng)舍去不計 | |||||
由上圖看出I/I0總體上基本滿足指數(shù)衰減的趨勢,舍棄首尾點以后,中間段的相關(guān)系數(shù)達到了0.99346(見左圖),說明中間段的線性較好;為按直線外推至I/I0為10-4提供了合理的依據(jù); 得到P點坐標為 | |||||
由此進行計算如下: β射線射程; 滿足條件R>0.3g/cm2 因此, |
實驗小結(jié)及建議:
本實驗是一個比較好的實驗,引起誤差的主要因素有如下述:一則,計數(shù)器顯示的計數(shù)偶爾會出現(xiàn)跳數(shù),可能是由于放射源本身的隨機誤差,也可能是由于外界影響造成計數(shù)管不穩(wěn)定產(chǎn)生的誤差;其次,鋁箔的放置和鋁箔本身的偏差都對實驗造成影響;另外,測量時間也各有不同,造成了計數(shù)的標準不嚴格統(tǒng)一;,曲線外推有主觀性,難免造成誤差!
從本次實驗的結(jié)果來看,實驗測得的吸收曲線與理論情況比較符合,中間段相關(guān)系數(shù)達到0.99346,線性較好,與理論基本符合;首尾部分的偏離的原因可能是由于電離損失,軔致輻射,多次輻射,以及同時放出X射線等造成的影響。
總的來說,實驗結(jié)果基本讓人滿意,在現(xiàn)有實驗條件下,實驗比較準確。
思考題:
1. 在測量吸收曲線時,放射源、吸收物質(zhì)、探測器等的相對位置以及工作條件等是否可以改變?為什么?
答:
不可以改變,一方面,源、吸收物質(zhì)、探測器等的相對位置決定了在時間里實驗探測到的粒子數(shù)的強弱多少,若相對位置改變則可能造成探測器沒有對準放射源、或者鋁箔位置不正,造成探測到的粒子數(shù)不反映普遍規(guī)律。另一方面,β射線的能量衰減包括了電離損失,軔致輻射,多次輻射等,相對位置和